智能卡读写器可靠性增长试验是通过特定的试验方法,模拟实际使用环境和工况,发现产品在可靠性方面存在的问题,进而采取措施改进,以提升智能卡读写器的可靠性和稳定性,确保其在各种应用场景下能正常工作。
智能卡读写器可靠性增长试验目的
目的之一是识别智能卡读写器在设计、制造等环节存在的可靠性薄弱点,以便针对性改进。其二是通过试验过程中的数据收集与分析,优化产品的性能和结构,提高其在实际使用中的寿命和稳定性。其三是验证改进措施的有效性,确保经过改进后的智能卡读写器能满足可靠性要求,为其投入市场提供可靠保障。
智能卡读写器可靠性增长试验原理
该试验基于可靠性工程原理,模拟智能卡读写器在不同温度、湿度、电磁干扰等环境条件下以及不同使用频率、负载等工况下的工作状态。通过不断施加应力,激发产品潜在的故障,然后分析故障原因,采取纠正措施,再重复试验过程,使产品的可靠性逐步增长,类似于通过迭代的方式不断优化产品的可靠性水平。
智能卡读写器可靠性增长试验所需设备
需要环境试验箱来模拟不同的温度、湿度环境,比如能控制温度范围在 -40℃至85℃等不同区间,湿度能在20%-95%范围内调节的设备。还需要电磁干扰发生器来模拟不同强度的电磁干扰环境。另外,需要测试仪器来监测智能卡读写器的工作参数,如电压、电流、通信状态等的测试设备,以及用于控制试验流程和记录数据的计算机控制系统等设备。
智能卡读写器可靠性增长试验条件
试验环境条件方面,温度条件一般设定为 -20℃、25℃、55℃等不同温度点进行循环试验;湿度条件可设置为40%RH、60%RH、80%RH等不同湿度值;电磁干扰强度要根据实际应用场景设定不同等级,如低、中、高干扰强度。试验工况条件包括不同的读写频率,如13.56MHz等不同频率下的读写操作,以及不同的负载情况,模拟不同数量智能卡同时读写等工况。
智能卡读写器可靠性增长试验步骤
首先是试验准备,包括安装调试所需设备,设置试验条件参数等。然后进行初始试验,让智能卡读写器在设定的初始条件下运行一定时间,记录运行过程中的故障情况。接着分析初始试验中发现的故障,制定改进措施并实施改进。之后再次进行试验,重复上述初始试验、故障分析、改进实施的过程,直到达到预定的可靠性目标。在整个过程中,要持续记录试验数据和故障情况。
智能卡读写器可靠性增长试验参考标准
GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》,该标准规定了电工电子产品在低温环境下的试验方法和要求。
GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温》,规定了高温环境下的试验要求。
GB/T 2423.3-2016《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验》,明确了恒定湿热试验的相关要求。
GB/T 17626.2-2018《电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验》,用于模拟静电放电对智能卡读写器的影响试验。
GB/T 17626.3-2016《电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验》,规定了射频电磁场辐射抗扰度的试验方法。
GB/T 17626.4-2018《电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验》,适用于电快速瞬变脉冲群对智能卡读写器的抗扰度试验。
GB/T 17626.5-2019《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》,用于浪涌对智能卡读写器的抗扰度试验。
GB/T 2828.1-2012《计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划》,可用于抽样检验智能卡读写器的可靠性相关指标。
GB/T 5080.7-2016《设备可靠性试验 恒定应力加速寿命试验》,为加速寿命试验提供方法指导。
智能卡读写器可靠性增长试验注意事项
首先要确保试验设备的准确性和稳定性,定期对环境试验箱等设备进行校准。其次,试验过程中要严格按照设定的条件进行操作,不得随意更改试验参数。另外,要详细记录每一次试验的故障现象、发生时间、持续时间等信息,保证记录数据的完整性和准确性。
智能卡读写器可靠性增长试验结果评估
结果评估首先要看试验过程中故障发生的频率是否逐渐降低,若故障频率呈下降趋势,说明可靠性在增长。其次,要评估改进措施实施前后产品性能参数的变化,如读写速度、通信稳定性等指标是否有改善。还可以通过对比改进前后产品的寿命测试数据,来判断可靠性增长试验的效果是否达到预期。
智能卡读写器可靠性增长试验应用场景
在智能卡读写器的研发阶段,通过可靠性增长试验可以优化产品设计,确保产品在投入市场前具备良好的可靠性。在生产过程中,可利用该试验来监控产品质量,及时发现生产环节中的可靠性问题并进行改进。此外,在产品售后维护阶段,也可以通过类似的可靠性试验来分析产品故障原因,为改进产品设计和提高售后服务质量提供依据。