半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

基础信息

标准号：GB/T 14032-1992发布日期：1992-12-17实施日期：1993-08-01标准类别：方法中国标准分类号：L55国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

上海元件五厂

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