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国家标准

锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

时间:2025-05-29 来源:微析研究院 点击:0

基础信息

标准号:GB/T 11297.6-1989发布日期:1989-03-31实施日期:1990-01-01标准类别:方法中国标准分类号:L32归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委

起草单位

电子十一所

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